تحميل...

Investigations of Phase Transformation in Monocrystalline Silicon at Low Temperatures via Nanoindentation

Nanoindentations of monocrystalline silicon are conducted to investigate the phase transformation process at a temperature range from 292 K to 210 K. The load-displacement curves are obtained and the residual indents are detected by Raman spectra. MD simulations are also conducted to identify the ph...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
الحاوية / القاعدة:Sci Rep
المؤلفون الرئيسيون: Wang, Shunbo, Liu, Hang, Xu, Lixia, Du, Xiancheng, Zhao, Dan, Zhu, Bo, Yu, Miao, Zhao, Hongwei
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Nature Publishing Group UK 2017
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5561054/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28819254
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-017-09411-x
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!