تحميل...
Investigations of Phase Transformation in Monocrystalline Silicon at Low Temperatures via Nanoindentation
Nanoindentations of monocrystalline silicon are conducted to investigate the phase transformation process at a temperature range from 292 K to 210 K. The load-displacement curves are obtained and the residual indents are detected by Raman spectra. MD simulations are also conducted to identify the ph...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Sci Rep |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Nature Publishing Group UK
2017
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5561054/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28819254 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-017-09411-x |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|