Thirty per cent contrast in secondary-electron imaging by scanning field-emission microscopy

We perform scanning tunnelling microscopy (STM) in a regime where primary electrons are field-emitted from the tip and excite secondary electrons out of the target—the scanning field-emission microscopy regime (SFM). In the SFM mode, a secondary-electron contrast as high as 30% is observed when imag...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Publicado no:Proc Math Phys Eng Sci
Main Authors: Zanin, D. A., De Pietro, L. G., Peter, Q., Kostanyan, A., Cabrera, H., Vindigni, A., Bähler, Th., Pescia, D., Ramsperger, U.
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: The Royal Society Publishing 2016
Assuntos:
Research Articles
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5134307/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27956876
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1098/rspa.2016.0475
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

Registos relacionados