Darowicki, K., Zieliński, A., & J Kurzydłowski, K. (2008). Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy. Sci Technol Adv Mater.
Chicago-tyylinen lähdeviittausDarowicki, Kazimierz, Artur Zieliński, ja Krzysztof J Kurzydłowski. "Application of Dynamic Impedance Spectroscopy to Atomic Force Microscopy." Sci Technol Adv Mater 2008.
MLA-viiteDarowicki, Kazimierz, Artur Zieliński, ja Krzysztof J Kurzydłowski. "Application of Dynamic Impedance Spectroscopy to Atomic Force Microscopy." Sci Technol Adv Mater 2008.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.