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von Schmidsfeld, A., Nörenberg, T., Temmen, M., & Reichling, M. (2016). Understanding interferometry for micro-cantilever displacement detection. Beilstein J Nanotechnol.

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von Schmidsfeld, Alexander, Tobias Nörenberg, Matthias Temmen, and Michael Reichling. "Understanding Interferometry for Micro-cantilever Displacement Detection." Beilstein J Nanotechnol 2016.

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von Schmidsfeld, Alexander, Tobias Nörenberg, Matthias Temmen, and Michael Reichling. "Understanding Interferometry for Micro-cantilever Displacement Detection." Beilstein J Nanotechnol 2016.

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