Zhang, M., Long, S., Li, Y., Liu, Q., Lv, H., Miranda, E., . . . Liu, M. (2016). Analysis on the Filament Structure Evolution in Reset Transition of Cu/HfO(2)/Pt RRAM Device. Nanoscale Res Lett.
Chicago-tyylinen lähdeviittausZhang, Meiyun, Shibing Long, Yang Li, Qi Liu, Hangbing Lv, Enrique Miranda, Jordi Suñé, ja Ming Liu. "Analysis On the Filament Structure Evolution in Reset Transition of Cu/HfO(2)/Pt RRAM Device." Nanoscale Res Lett 2016.
MLA-viiteZhang, Meiyun, et al. "Analysis On the Filament Structure Evolution in Reset Transition of Cu/HfO(2)/Pt RRAM Device." Nanoscale Res Lett 2016.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.