تحميل...
Spatially Multiplexed Micro-Spectrophotometry in Bright Field Mode for Thin Film Characterization
Thickness characterization of thin films is of primary importance in a variety of nanotechnology applications, either in the semiconductor industry, quality control in nanofabrication processes or engineering of nanoelectromechanical systems (NEMS) because small thickness variability can strongly co...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Sensors (Basel) |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
MDPI
2016
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4934351/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27338398 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/s16060926 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|