লোডিং...

Hard X-Ray Microscope With Submicrometer Spatial Resolution

A high-resolution hard x-ray microscope is described. This system is capable of detecting line features as small as 0.6 µm in width, and resolving line pairs 1.2-µm wide and 1.2-µm apart. Three types of two-dimensional image detectors are discussed and compared for use with hard x rays in high resol...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রকাশিত:J Res Natl Inst Stand Technol
প্রধান লেখক: Kuriyama, Masao, Dobbyn, Ronald C., Spal, Richard D., Burdette, Harold E., Black, David R.
বিন্যাস: Artigo
ভাষা:Inglês
প্রকাশিত: [Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology 1990
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4930020/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28179792
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.6028/jres.095.044
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!