লোডিং...
Hard X-Ray Microscope With Submicrometer Spatial Resolution
A high-resolution hard x-ray microscope is described. This system is capable of detecting line features as small as 0.6 µm in width, and resolving line pairs 1.2-µm wide and 1.2-µm apart. Three types of two-dimensional image detectors are discussed and compared for use with hard x rays in high resol...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | J Res Natl Inst Stand Technol |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology
1990
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4930020/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28179792 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.6028/jres.095.044 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|