Φορτώνει......

IOTA: integration optimization, triage and analysis tool for the processing of XFEL diffraction images

Serial femtosecond crystallography (SFX) uses an X-ray free-electron laser to extract diffraction data from crystals not amenable to conventional X-ray light sources owing to their small size or radiation sensitivity. However, a limitation of SFX is the high variability of the diffraction images tha...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τόπος έκδοσης:J Appl Crystallogr
Κύριοι συγγραφείς: Lyubimov, Artem Y., Uervirojnangkoorn, Monarin, Zeldin, Oliver B., Brewster, Aaron S., Murray, Thomas D., Sauter, Nicholas K., Berger, James M., Weis, William I., Brunger, Axel T.
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: International Union of Crystallography 2016
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4886991/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27275148
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600576716006683
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!