Comparison of two high-throughput semiconductor chip sequencing platforms in noninvasive prenatal testing for Down syndrome in early pregnancy

BACKGROUND: Noninvasive prenatal testing (NIPT) to detect fetal aneuploidy using next-generation sequencing on ion semiconductor platforms has become common. There are several sequencers that can generate sufficient DNA reads for NIPT. However, the approval criteria vary among platforms and countrie...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:BMC Med Genomics
Główni autorzy: Kim, Sunshin, Jung, HeeJung, Han, Sung Hee, Lee, SeungJae, Kwon, JeongSub, Kim, Min Gyun, Chu, Hyungsik, Chen, Hongliang, Han, Kyudong, Kwak, Hwanjong, Park, Sunghoon, Joo, Hee Jae, Kim, Byung Chul, Bhak, Jong
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: BioMed Central 2016
Hasła przedmiotowe:
Research Article
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4851803/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27129388
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/s12920-016-0182-9
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy