Lanean...

An X-ray diffractometer using mirage diffraction. Erratum

Errors in the article by Fukamachi, Jongsukswat, Ju, Negishi, Hirano & Kawamura [J. Appl. Cryst. (2014), 47, 1267–1272] are corrected.

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Argitaratua izan da:J Appl Crystallogr
Egile Nagusiak: Fukamachi, Tomoe, Jongsukswat, Sukswat, Ju, Dongying, Negishi, Riichirou, Hirano, Keiichi, Kawamura, Takaaki
Formatua: Artigo
Hizkuntza:Inglês
Argitaratua: International Union of Crystallography 2015
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4453167/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26089753
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600576714026028
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!