Lanean...
Advanced atomic force microscopy techniques II
Gorde:
| Argitaratua izan da: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Egile Nagusiak: | , , |
| Formatua: | Artigo |
| Hizkuntza: | Inglês |
| Argitaratua: |
Beilstein Institute
2014
|
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4273268/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25551060 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.5.241 |
| Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|