Ładuje się......

In Situ SIMS and IR Spectroscopy of Well-defined Surfaces Prepared by Soft Landing of Mass-selected Ions

Soft landing of mass-selected ions onto surfaces is a powerful approach for the highly-controlled preparation of materials that are inaccessible using conventional synthesis techniques. Coupling soft landing with in situ characterization using secondary ion mass spectrometry (SIMS) and infrared refl...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Johnson, Grant E., Gunaratne, K. Don Dasitha, Laskin, Julia
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: MyJove Corporation 2014
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4195338/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24961913
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3791/51344
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!