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Ultrafast Optical Properties of Dense Electron Gas in Silicon Nanostructures

We investigate the ultrafast dynamics of carriers in a silicon nanostructure by performing spectrally resolved femtosecond spectroscopy measurements with a supercontinuum probe. The nanostructure consists of a 158-nm-thick crystalline Si layer on top of which a SiO(2) passivation layer leads to a ve...

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Sieradzki, A., Basta, M., Scharoch, P., Bigot, J.-Y.
Natura: Artigo
Lingua:Inglês
Pubblicazione: Springer US 2013
Soggetti:
Accesso online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4018487/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24834018
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1007/s11468-013-9658-z
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