تحميل...

Semiparametric Accelerated Failure Time Model for Length-biased Data with Application to Dementia Study

A semiparametric accelerated failure time (AFT) model is proposed to evaluate the effects of risk factors on the unbiased failure times for the target population given the observed length-biased data. The analysis of length-biased data is complicated by informative right censoring due to the biased...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Ning, Jing, Qin, Jing, Shen, Yu
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3903417/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24478570
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.5705/ss.2011.197
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!