Barnard, H., Drake, B., Randall, C., & Hansma, P. K. (2013). Deep atomic force microscopy. AIP Publishing LLC.
Citação norma ChicagoBarnard, H., B. Drake, C. Randall, and P. K. Hansma. Deep Atomic Force Microscopy. AIP Publishing LLC, 2013.
ציטוט MLABarnard, H., B. Drake, C. Randall, and P. K. Hansma. Deep Atomic Force Microscopy. AIP Publishing LLC, 2013.
אזהרה: ציטוטים אלה לעיתים לא מדויקים ב 100%.