Key concepts behind forming-free resistive switching incorporated with rectifying transport properties

This work reports the effect of Ti diffusion on the bipolar resistive switching in Au/BiFeO(3)/Pt/Ti capacitor-like structures. Polycrystalline BiFeO(3) thin films are deposited by pulsed laser deposition at different temperatures on Pt/Ti/SiO(2)/Si substrates. From the energy filtered transmission...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Shuai, Yao, Ou, Xin, Luo, Wenbo, Mücklich, Arndt, Bürger, Danilo, Zhou, Shengqiang, Wu, Chuangui, Chen, Yuanfu, Zhang, Wanli, Helm, Manfred, Mikolajick, Thomas, Schmidt, Oliver G., Schmidt, Heidemarie
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: Nature Publishing Group 2013
Hasła przedmiotowe:
Article
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3713515/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/23860408
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep02208
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy