Ładuje się......
Low dose hard x-ray contact microscopy assisted by a photoelectric conversion layer
Hard x-ray contact microscopy provides images of dense samples at resolutions of tens of nanometers. However, the required beam intensity can only be delivered by synchrotron sources. We report on the use of a gold photoelectric conversion layer to lower the exposure dose by a factor of 40 to 50, al...
Zapisane w:
| Główni autorzy: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
Author(s).
2013
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3645440/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/23837131 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/1.4802886 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|