Hoppa till innehåll
VuFind
Mitt konto
Logga ut
Logga in
Språk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português (Brasil)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Alla fält
Upphovsman
Titel
Tidskriftstitel
Ämne
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
Characterization of ultrathin...
Skicka posten per e-post
Skicka posten per e-post:
Characterization of ultrathin InSb nanocrystals film deposited on SiO(2)/Si substrate
Mottagare:
Meddelande:
×
Laddar...