Wulf, U., Krahlisch, M., & Richter, H. (2011). Scaling properties of ballistic nano-transistors. Springer.
Citação norma ChicagoWulf, Ulrich, Marcus Krahlisch, and Hans Richter. Scaling Properties of Ballistic Nano-transistors. Springer, 2011.
ציטוט MLAWulf, Ulrich, Marcus Krahlisch, and Hans Richter. Scaling Properties of Ballistic Nano-transistors. Springer, 2011.
אזהרה: ציטוטים אלה לעיתים לא מדויקים ב 100%.