Eriksson, J., Roccaforte, F., Reshanov, S., Leone, S., Giannazzo, F., LoNigro, R., . . . Raineri, V. (2011). Nanoscale characterization of electrical transport at metal/3C-SiC interfaces. Springer.
Citación estilo ChicagoEriksson, Jens, Fabrizio Roccaforte, Sergey Reshanov, Stefano Leone, Filippo Giannazzo, Raffaella LoNigro, Patrick Fiorenza, and Vito Raineri. Nanoscale Characterization of Electrical Transport At Metal/3C-SiC Interfaces. Springer, 2011.
Cita MLAEriksson, Jens, et al. Nanoscale Characterization of Electrical Transport At Metal/3C-SiC Interfaces. Springer, 2011.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.