লোডিং...
Simulating STEM Imaging of Nanoparticles in Micrometers-Thick Substrates
Scanning transmission electron microscope (STEM) images of three-dimensional (3D) samples were simulated. The samples consisted of a micrometer(s)-thick substrate, and gold nanoparticles at various vertical positions. The atomic number (Z) contrast as obtained via the annular dark field detector was...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
2010
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3165039/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/20961483 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1017/S1431927610094080 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|