טוען...

STED-SPIM: Stimulated Emission Depletion Improves Sheet Illumination Microscopy Resolution

We demonstrate the first, to our knowledge, integration of stimulated emission depletion (STED) with selective plane illumination microscopy (SPIM). Using this method, we were able to obtain up to 60% improvements in axial resolution with lateral resolution enhancements in control samples and zebraf...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Friedrich, Mike, Gan, Qiang, Ermolayev, Vladimir, Harms, Gregory S.
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: The Biophysical Society 2011
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3077687/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/21504720
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1016/j.bpj.2010.12.3748
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!