Reply to Bonnefoix and Callanan: Significance of Akt/Wnt pathway in radiation resistance of TICs

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Rosen, Jeffrey M., Zhang, Mei, Hilsenbeck, Susan
Formatua: Artigo
Hizkuntza:Inglês
Argitaratua: National Academy of Sciences 2010
Gaiak:
Letters
Sarrera elektronikoa:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2906908/
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1073/pnas.1003863107
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Antzeko izenburuak