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Use and in-circuit testing of silicon diodes for suppression of relay coil transients
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
1964
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC1404390/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/14143916 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1901/jeab.1964.7-252 |
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