טוען...

Diallel-cross analysis of grain yield and stress tolerance-related traits under semi-arid conditions in Durum wheat (Triticum durum Desf.)

Half-diallel analysis with six genotypes of durum wheat was conducted for grain yield, yield components and agronomictraits related to abiotic stress tolerance. Aim of this study is to identify best parents for hybridization. Cultivar GuemgoumRkhem proved to be best general combiner for number of da...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: HANNACHI Abderrahmane, FELLAHI Zine El Abidine, BOUZERZOUR Hamenna and BOUTAKRABT Ammar
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Indian Society of Plant Breeders 2013-03-01
סדרה:Electronic Journal of Plant Breeding
נושאים:
גישה מקוונת:https://sites.google.com/site/ejpb2011/vol-4-1/EJPB_V4_N1_1027_1033.pdf?attredirects=0
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!