এক্সপোর্ট সম্পূর্ন হয়েছে — 
লোডিং...

Simultaneous imaging of the ferromagnetic and ferroelectric structure in multiferroic heterostructures

By measuring the spin polarization of secondary electrons and the intensity of backscattered electrons generated in a scanning electron microscope, we are able to simultaneously image the ferromagnetic domain structure of a ferromagnetic thin film and the ferroelectric domain structure of the underl...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: J. Unguris, S. R. Bowden, D. T. Pierce, M. Trassin, R. Ramesh, S.-W. Cheong, S. Fackler, I. Takeuchi
বিন্যাস: Artigo
ভাষা:Inglês
প্রকাশিত: AIP Publishing LLC 2014-07-01
মালা:APL Materials
অনলাইন ব্যবহার করুন:http://dx.doi.org/10.1063/1.4890055
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!