In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy. Corrigendum
Errors in variable subscripts, equations and Fig. 8 in Section 3.2 of the article by Lotze et al. [(2024). J. Synchrotron Rad. 31, 42–52] are corrected.
Збережено в:
| Автори: | , , , , |
|---|---|
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Inglês |
| Опубліковано: |
International Union of Crystallography
2024-09-01
|
| Серія: | Journal of Synchrotron Radiation |
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://journals.iucr.org/paper?S1600577524006283 |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|