基于有限元方法的35 kV干式空心并联电抗器匝间电场分布研究
深入开展35 k V干式空心电抗器匝间电场分布研究,对35 k V干式空心电抗器匝间放电故障分析和提高35 k V干式空心电抗器的可靠运行具有重要意义。为此,文中基于有限元仿真计算开展了35 k V干式空心电抗器匝间电场分布研究。研究结果表明:35 k V干式空心电抗器外层支路匝间电场强度大于内层支路的匝间电场强度,且由于35 k V干式空心电抗器电磁场分布的特殊性导致了每层支路中端部的匝间电场强度小于中间部分的匝间电场强度;10 k Hz下的匝间电压比与50 Hz下的匝间电压比近似相同。
Gorde:
| Egile Nagusiak: | , , , , , , |
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| Formatua: | Artigo |
| Hizkuntza: | Chinês |
| Argitaratua: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2018-01-01
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| Saila: | Gaoya dianqi |
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | http://www.zgydq.com/zh/article/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2018.02.024/ |
| Etiketak: |
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