Nanoindentación basada en espectroscopia de fuerzas con un microscopio de fuerza atómica
Se presenta la implementación de un método para indentar superficies rígidas a nanoescala utilizando un microscopio de fuerza atómica (Atomic Force Mi-croscopy–AFM). Esta se basa en el modo de espectroscopia de fuerzas (Force Spectroscopy–FS) que usualmente se encuentra disponible en los AFM, la cua...
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
Universidad EAFIT
2008-12-01
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| coleção: | Ingeniería y Ciencia |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/ingciencia/article/view/216 |
| Tags: |
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