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Characterisation of nanodimensional structures using spectroscopic ellipsometry

In this paper, using spectroscopic ellipsometry we studied the optical properties of thin films, nanocrystals and carbon nanotubes in UV-VIS-NIR range. With a three-phase model, we calculated the thickness of the SiO2 film on a silicon substrate. Using the model for multilayer structure together wit...

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Principais autores: Mirić Milka M., Radović Marko B., Gajić Radoš B., Dohčević-Mitrović Zorana D., Popović Zoran V.
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Association of Chemical Engineers of Serbia 2009-01-01
coleção:Hemijska Industrija
Assuntos:
nanomaterials
optical properties
sectroscopic ellipsometry
Acesso em linha:http://www.doiserbia.nb.rs/img/doi/0367-598X/2009/0367-598X0903227M.pdf
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