Dokumentuaren aipamena
APA (7th ed.) Zitazioa
Marrakh, R., & Bouhdada, A. (2003). Modeling of the I–V Characteristics for LDD-nMOSFETs in Relation with Defects Induced by Hot-Carrier Injection. Wiley.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
Chicago Style (17th ed.) Zitazioa
Marrakh, R., eta A. Bouhdada. Modeling of the I–V Characteristics for LDD-nMOSFETs in Relation with Defects Induced by Hot-Carrier Injection. Wiley, 2003.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
MLA (9th ed.) Zitazioa
Marrakh, R., eta A. Bouhdada. Modeling of the I–V Characteristics for LDD-nMOSFETs in Relation with Defects Induced by Hot-Carrier Injection. Wiley, 2003.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
Kontuz: berrikusi erreferentzia hauek erabili aurretik.