基于共形稀疏阵列传感器的局放超声检测方法研究
超声阵列检测由于其高检测灵敏度和强抗干扰能力,广泛应用于电气设备的局放检测。目前常用的平面型阵列传感器遇到不规则的电气设备外表面时不能完全与之契合而出现检测死区,因此有必要研究共形阵列传感器。同时,在实际检测当中,由于阵元失效会显著降低检测成功率。据此,文中提出了一种基于共形稀疏阵列传感器的局部放电超声检测方法,首先研制了一种共形阵列传感器,并模拟了几种稀疏结构;其次运用稀疏测向算法对几种稀疏结构下的共形阵列传感器进行测向仿真研究;最后,以稀疏率2/9的共形阵列传感器为例,进行了局部放电超声阵列检测的实验研究。结果表明:共形稀疏阵列传感器适用于电气设备的局放检测。
Gorde:
| Egile Nagusiak: | , , , , , |
|---|---|
| Formatua: | Artigo |
| Hizkuntza: | Chinês |
| Argitaratua: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2021-01-01
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| Saila: | Gaoya dianqi |
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | http://www.zgydq.com/zh/article/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2021.07.009/ |
| Etiketak: |
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