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Impedance Spectroscopy for Interface Trap Effects Evaluation in Dopant-Free Silicon Solar Cells

This work investigates the effect of interface traps on the impedance spectra of dopant-free silicon solar cells. The studied device consists of a crystalline silicon absorber with an a-Si:H/MoOx/ITO stack as the front passivating hole-collecting contact and an a-Si:H/LiF/Al stack as the rear passiv...

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Principais autores: Ilaria Matacena, Laura Lancellotti, Eugenia Bobeico, Iurie Usatii, Marco della Noce, Elena Santoro, Pietro Scognamiglio, Lucia V. Mercaldo, Paola Delli Veneri, Santolo Daliento
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: MDPI AG 2025-08-01
coleção:Energies
Assuntos:
impedance spectroscopy
TCAD
annealing
Nyquist plot
dopant-free
silicon solar cells
Acesso em linha:https://www.mdpi.com/1996-1073/18/17/4558
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