Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución

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Podrobná bibliografie

Hlavní autoři:	M. Yactayo, Jaafar GHANBAJA, Olivier Copie, Justiniano Quispe Marcatoma, Carlos Landauro, Juan Carlos Rojas Sánchez
Médium:	Artigo
Jazyk:	Inglês
Vydáno:	Instituto de Investigación de Física 2024-08-01
Edice:	Revista de Investigación de Física
Témata:	película delgada nanoestructura caracterización estructural caracterización morfológica ciencia de los materiales
On-line přístup:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!