QR Kod

Creep-induced microstructural evolution of the eutectic Mo-Si-Ti alloy by correlative electron microscopy

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Thota Hemanth, Schliephake Daniel, Kauffmann Alexander, Wu Huichao, Pundt Astrid, Heilmaier Martin, Eggeler Yolita M.
Materyal Türü: Artigo
Dil:Inglês
Baskı/Yayın Bilgisi: EDP Sciences 2024-01-01
Seri Bilgileri:BIO Web of Conferences
Konular:
Online Erişim:https://www.bio-conferences.org/articles/bioconf/pdf/2024/48/bioconf_emc2024_23022.pdf
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!