Managing electron-counted MicroED data
In microcrystal electron diffraction (MicroED) a series of diffraction images is recorded from a continuously rotating crystal in a transmission electron microscope. Recent electron-counting direct detectors have significantly improved data accuracy while reducing acquisition time. These cameras cap...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
AIP Publishing LLC and ACA
2025-10-01
|
| Loạt: | Structural Dynamics |
| Truy cập trực tuyến: | https://pubs.aip.org/aca/sdy/article-pdf/12/5_Supplement/A170/20775183/a170_1_4.0000960.pdf |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|