MgAl<sub>2</sub>O<sub>3</sub>透明陶瓷正电子湮没寿命谱的研究
作者采用正电子湮没寿命谱的方法 ,研究了Mg -Al尖晶石透明陶瓷经电子和质子辐照处理后的缺陷情况 ,以及在γ射线辐照下 ,其缺陷情况随γ射线剂量的变化规律 ;并研究了该样品的退火特性 .发现电子辐照样品时所产生的正离子空位 ,在注量大于 1× 1 0 1 6/cm2 时还可能存在F心 .质子辐照样品时 ,在较小注量下即能造成较多的损伤缺陷 .样品中的缺陷随着γ辐照剂量的增加出现三个阶段 .经质子和γ辐照后进行退火出现缺陷分解现象 .说明辐照后的样品中存在复杂的缺陷结构 .
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| Главные авторы: | , , , |
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| Формат: | Artigo |
| Язык: | Inglês |
| Опубликовано: |
Editorial Department of Journal of Sichuan University (Natural Science Edition)
2001-01-01
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| Серии: | 四川大学学报. 自然科学版 |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://science.scu.edu.cn/thesisDetails?columnId=156425208&Fpath=home&index=0 |
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