Electro-optic time profile monitors for femtosecond electron bunches at the soft x-ray free-electron laser FLASH

Precise measurements of the temporal profile of ultrashort electron bunches are of high interest for the optimization and operation of ultraviolet and x-ray free-electron lasers. The electro-optic (EO) technique has been applied for a single-shot direct visualization of the time profile of individua...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục

Những tác giả chính:	B. Steffen, V. Arsov, G. Berden, W. A. Gillespie, S. P. Jamison, A. M. MacLeod, A. F. G. van der Meer, P. J. Phillips, H. Schlarb, B. Schmidt, P. Schmüser
Định dạng:	Artigo
Ngôn ngữ:	Inglês
Được phát hành:	American Physical Society 2009-03-01
Loạt:	Physical Review Special Topics. Accelerators and Beams
Truy cập trực tuyến:	http://doi.org/10.1103/PhysRevSTAB.12.032802
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!