QR код

Stiffness calibration of qPlus sensors at low temperature through thermal noise measurements

Non-contact atomic force microscopy (nc-AFM) offers a unique experimental framework for topographical imaging of surfaces with atomic and/or sub-molecular resolution. The technique also permits to perform frequency shift spectroscopy to quantitatively evaluate the tip–sample interaction forces and p...

Повний опис

Збережено в:
Автори: Laurent Nony, Sylvain Clair, Daniel Uehli, Aitziber Herrero, Jean-Marc Themlin, Andrea Campos, Franck Para, Alessandro Pioda, Christian Loppacher
Формат: Artigo
Мова:Inglês
Опубліковано: Beilstein-Institut 2024-05-01
Серія:Beilstein Journal of Nanotechnology
Предмети:
low temperature
non-contact atomic force microscopy
qplus sensors
quartz tuning fork
stiffness calibration
thermal noise
ultrahigh vacuum
Онлайн доступ:https://doi.org/10.3762/bjnano.15.50
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Схожі ресурси