GIS盆式绝缘子表面缺陷的局部放电检测
盆式绝缘子是GIS设备中故障率较高的部件之一,尤其是盆式绝缘子的沿面闪络,对于GIS运行的安全性威胁极大。因此,对盆式绝缘子上可能引起故障的缺陷,特别是绝缘表面缺陷进行状态检测,以预防绝缘故障的产生,是现阶段研究的热点问题之一。文中以一个存在表面缺陷的实际GIS盆式绝缘子为例,使用多绝缘子对照方法测试了样品在高电压作用下的局部放电特性,并使用光电效应对实验结果进行了验证。根据实验结果对数据进行了分析,发现了放电伴随的光脉冲的强度与放电频率之间的相关性。文中的研究内容对于盆式绝缘子表面缺陷在现场的检测识别,以及绝缘子制造工艺的改进具有重要的参考意义。
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Chinês |
| Được phát hành: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2020-01-01
|
| Loạt: | Gaoya dianqi |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | http://www.zgydq.com/zh/article/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2020.05.016/ |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|