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Measurement of wood surface roughness in Dinizia excelsa Ducke using an atomic force microscope

Measurement techniques of nanoscale parameters have been vastly explored nowadays. In systems such as wood that possess anisotropic surfaces, these techniques provide reliable data on the surface morphology and related parameters. The atomic force microscope (AFM) and optical microscope were used t...

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Detalhes bibliográficos
Principais autores: Willian Silva da Conceição, Robert Saraiva Matos, Ituany da Costa Melo, Glenda Quaresma Ramos, Fidel Guereiro Zayas, Henrique Duarte da Fonseca Filho
Formato: Artigo
Idioma:Português
Publicado em: Universidade Estadual de Maringá 2022-01-01
coleção:Acta Scientiarum: Technology
Assuntos:
Acesso em linha:https://periodicos.uem.br/actascitechnol/index.php/ActaSciTechnol/article/view/56509
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