Full-field hard X-ray nano-tomography at SSRF
An in-house designed transmission X-ray microscopy (TXM) instrument has been developed and commissioned at beamline BL18B of the Shanghai Synchrotron Radiation Facility (SSRF). BL18B is a hard (5–14 keV) X-ray bending-magnet beamline recently built with sub-20 nm spatial resolution in TXM. There are...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
International Union of Crystallography
2023-07-01
|
| মালা: | Journal of Synchrotron Radiation |
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | http://scripts.iucr.org/cgi-bin/paper?S1600577523003168 |
| ট্যাগগুলো: |
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|