Symmetric mean and directional contour pattern for texture classification
Abstract In this letter, we propose a simple yet effective texture descriptor, symmetric mean and directional contour pattern (SMDCP), for texture classification. In particular, first the robust symmetric mean pattern (RSMP) that extracts the sign and amplitude information of the local difference th...
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| Principais autores: | , , , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
Wiley
2021-11-01
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| coleção: | Electronics Letters |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://doi.org/10.1049/ell2.12310 |
| Tags: |
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