Raman Identification of Polymorphs in Pentacene Films
We use Raman spectroscopy to characterize thin films of pentacene grown on Si/SiO x by Supersonic Molecular Beam Deposition (SuMBD). We find that films up to a thickness of about 781 Å (∼ 52 monolayers) all belong to the so-called thin-film (TF) phase. The appearance with strong intensity of...
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| Principais autores: | , , , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
MDPI AG
2016-04-01
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| Colecção: | Crystals |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://www.mdpi.com/2073-4352/6/4/41 |
| Tags: |
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