QR код

Directional sensitivity of the A1g phonon in biaxially strained bismuth heterofilms studied by transient white light reflectivity

Strain engineering in epitaxial Bi(111) films on Si(111) enables temperature-tunable phonon frequencies through thermal expansion mismatch. Using in situ low-energy electron diffraction combined with broadband femtosecond transient reflectivity on the same samples, we directly correlate anisotropic...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автори: Fabian Thiemann, Maja Penkl, Michael Horn-von Hoegen
Формат: Artigo
Мова:Inglês
Опубліковано: AIP Publishing LLC and ACA 2026-06-01
Серія:Structural Dynamics
Онлайн доступ:https://pubs.aip.org/aca/sdy/article-pdf/doi/10.1063/4.0001200/21037507/034501_1_4.0001200.pdf
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!