Data-driven investigation of thickness variations in multilayer thin film coatings
Design and fabrication of multilayer thin film coatings for photonics applications require careful consideration of various parameters such as layer thickness, refractive indices and number of stacks. A growing trend uses machine learning for efficient navigation in the complex parameter space of ph...
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| Principais autores: | , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
IOP Publishing
2024-01-01
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| coleção: | JPhys Photonics |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://doi.org/10.1088/2515-7647/ad8614 |
| Tags: |
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