Feature extraction and spatial imaging of synchrotron radiation X-ray diffraction patterns using unsupervised machine learning

We analyzed a number of complicated X-ray diffraction patterns using feature patterns obtained through unsupervised machine learning. A crystalline SiGe film on a Si substrate with a spatial fluctuation in both composition and crystal orientation was tested as a model sample having complicated X-ray...

முழு விளக்கம்

சேமிக்கப்பட்டது:

நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
முதன்மை ஆசிரியர்கள்:	Kentaro Kutsukake, Takefumi Kamioka, Kota Matsui, Ichiro Takeuchi, Takashi Segi, Takuo Sasaki, Seiji Fujikawa, Masamitu Takahasi
வடிவம்:	Artigo
மொழி:	Inglês
வெளியிடப்பட்டது:	Taylor & Francis Group 2024-12-01
தொடர்:	Science and Technology of Advanced Materials: Methods
பொருள்கள்:	X-ray diffraction pattern machine learning non-negative matrix factorization micro beam mapping synchrotron radiation
ஆன்லைன் அணுகல்:	https://www.tandfonline.com/doi/10.1080/27660400.2024.2336402
குறிச்சொற்கள்:	குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும் டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!

Feature extraction and spatial imaging of synchrotron radiation X-ray diffraction patterns using unsupervised machine learning

ஒத்த வளங்கள்