QR குறியீடு

XFEL coherent diffraction imaging for weakly scattering particles using heterodyne interference

The spatial resolution of x-ray free-electron laser (XFEL) coherent diffraction imaging is currently limited by the fluence of XFELs. Here, we clarify this issue by systematically studying the diffraction with a SPring-8 angstrom compact free electron laser XFEL on gold nanoparticles of size from 10...

முழு விளக்கம்

சேமிக்கப்பட்டது:
முதன்மை ஆசிரியர்கள்: Chi-Feng Huang, Wei-Hau Chang, Ting-Kuo Lee, Yasumasa Joti, Yoshinori Nishino, Takashi Kimura, Akihiro Suzuki, Yoshitaka Bessho, Tsung-Tse Lee, Mei-Chun Chen, Shun-Min Yang, Yeukuang Hwu, Shih-Hsin Huang, Po-Nan Li, Peilin Chen, Yung-Chieh Tseng, Che Ma, Tsui-Ling Hsu, Chi-Huey Wong, Kensuke Tono, Tetsuya Ishikawa, Keng S. Liang
வடிவம்: Artigo
மொழி:Inglês
வெளியிடப்பட்டது: AIP Publishing LLC 2020-05-01
தொடர்:AIP Advances
ஆன்லைன் அணுகல்:http://dx.doi.org/10.1063/1.5129406
குறிச்சொற்கள்: குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும்
டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!

ஒத்த வளங்கள்