Integrated anti-electronics for positron annihilation spectroscopy
Abstract Imaging the features of a sample using Positron Annihilation Spectroscopy (PAS) is currently achieved by rastering, i.e. by scanning the sample surface with a sharply focused positron beam. However, a beam of arbitrary shape (sculpted beam) would allow the application of more versatile sing...
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Artigo |
| Լեզու: | Inglês |
| Հրապարակվել է: |
Nature Portfolio
2025-02-01
|
| Շարք: | Scientific Reports |
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | https://doi.org/10.1038/s41598-025-89630-9 |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|