Spectroscopic ellipsometry for low-dimensional materials and heterostructures
Discovery of low-dimensional materials has been of great interest in physics and material science. Optical permittivity is an optical fingerprint of material electronic structures, and thus it is an important parameter in the study of the properties of materials. Spectroscopic ellipsometry provides...
Збережено в:
| Автори: | , |
|---|---|
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Inglês |
| Опубліковано: |
Wiley
2022-04-01
|
| Серія: | Nanophotonics |
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://doi.org/10.1515/nanoph-2022-0039 |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|